Samtec 公司全新推出內(nèi)部升級(jí)篩選測(cè)試（Upscreen Testing）服務(wù)，旨在為關(guān)鍵任務(wù)應(yīng)用提升可靠性保障。據(jù)官方公告，該服務(wù)面向使用商用現(xiàn)貨（COTS）互連產(chǎn)品的軍工與航空航天客戶(hù)。此項(xiàng)發(fā)布展示了一種切實(shí)可行的方案：在嚴(yán)格符合行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的前提下，縮短認(rèn)證時(shí)間、降低成本。

符合軍工 / 航空航天標(biāo)準(zhǔn)的內(nèi)部測(cè)試

Samtec 升級(jí)篩選測(cè)試將批次篩選測(cè)試與認(rèn)證一致性檢測(cè)（QCI） 相結(jié)合。后者在基礎(chǔ)篩選之上，增加了沖擊、振動(dòng)及長(zhǎng)壽命測(cè)試等額外評(píng)估項(xiàng)目。

公司表示，該方案可根據(jù)客戶(hù)需求，融合MIL?DTL?55302、NASA EEE?INST?002及EIA?364等測(cè)試方法的相關(guān)內(nèi)容。采集的測(cè)試數(shù)據(jù)包括：絕緣電阻（IR）、耐擊穿電壓（DWV）、插拔性能及可焊性 —— 這些都是軍工級(jí)連接器驗(yàn)證的常規(guī)關(guān)鍵參數(shù)。

具體引用的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)包括：

EIA?364?23：低電平接觸電阻

EIA?364?13E：插拔力

EIA?364?20：耐電壓

EIA?364?21：絕緣電阻

可焊性測(cè)試：遵循 JEDEC J?STD?002D 方法 A

成本與周期優(yōu)勢(shì)

該服務(wù)的核心亮點(diǎn)之一是采用樣本級(jí)升級(jí)篩選測(cè)試。

Samtec 軍工與航空航天應(yīng)用工程師 Evan Baumer 表示：“樣本級(jí)升級(jí)篩選測(cè)試可幫助 Samtec 客戶(hù)加快產(chǎn)品上市速度、降低成本。例如，我們內(nèi)部的樣本級(jí)批次篩選，成本與交期僅為第三方實(shí)驗(yàn)室量產(chǎn)批次測(cè)試的約三分之一?！?/p>

測(cè)試所用全部?jī)x器均按照ISO 10012?1與ANSI/NCSL 2540?1標(biāo)準(zhǔn)，校準(zhǔn)至可追溯至美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究院（NIST）的標(biāo)準(zhǔn)，確保測(cè)量精準(zhǔn)與合規(guī)性。