評(píng)估電子元件老化和穩(wěn)定性的高溫老化方法

• 了解由于使用石英晶體的溫度和時(shí)間，以及應(yīng)用外推方法、老化方程和Arrhenius方程，電子元件的老化和穩(wěn)定性挑戰(zhàn)。即使有固定的輸入，電子電路也不是完全穩(wěn)定的；經(jīng)常隨時(shí)間和溫度漂移。這些與理想行為的偏差會(huì)給精確測量增加相當(dāng)大的誤差。隨時(shí)間漂移，也稱為長期穩(wěn)定性，是需要長時(shí)間高精度應(yīng)用的關(guān)鍵因素。測量系統(tǒng)的初始精度誤差通常可以通過初始校準(zhǔn)來消除；然而，消除長期漂移的誤差需要定期校準(zhǔn)。此外，這些校準(zhǔn)在某些工業(yè)、醫(yī)療、軍事和航空航天應(yīng)用中可能不切實(shí)際。在這篇文章中，我們將介紹評(píng)估電子元件長期穩(wěn)定性的高溫加速老化方
• 關(guān)鍵字： 電子元件老化，穩(wěn)定性，高溫老化方法