全球領(lǐng)先的自動(dòng)測(cè)試解決方案和先進(jìn)機(jī)器人供應(yīng)商泰瑞達(dá)（NASDAQ:TER）今日宣布推出一款基于UltraFLEXplus平臺(tái)的突破性高速PHY性能測(cè)試板卡——UltraPHY 224G。該解決方案與已量產(chǎn)并被多家客戶采用的UltraPHY 112G板卡形成更完善的產(chǎn)品組合。兩款解決方案均針對(duì)UltraFLEXplus設(shè)計(jì)，并借助泰瑞達(dá)先進(jìn)的IG-XL軟件，方便用戶快速上手使用。

UltraPHY 224G由泰瑞達(dá)采用Multilane模塊研發(fā)，可為量產(chǎn)測(cè)試提供實(shí)驗(yàn)室級(jí)別的信號(hào)生成與測(cè)量功能。該產(chǎn)品按照嚴(yán)格的軟硬件標(biāo)準(zhǔn)打造，為測(cè)試密度和信號(hào)保真度樹立新標(biāo)桿，以滿足下一代芯片高速接口的需求。

泰瑞達(dá)副總裁兼計(jì)算測(cè)試事業(yè)部總經(jīng)理Roy Chorev表示：“隨著泰瑞達(dá)UltraPHY 224G的推出，我們進(jìn)一步擴(kuò)充產(chǎn)品組合，以滿足下一代PHY更苛刻的測(cè)試要求?？蛻艨梢苑判模┤疬_(dá)對(duì)UltraPHY的投入既能支持當(dāng)前的芯粒架構(gòu)、先進(jìn)封裝及KGD工作流程，也能滿足未來的技術(shù)需求。”

UltraPHY 112G針對(duì)當(dāng)前的高速標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行優(yōu)化，而UltraPHY 224G拓展性能邊界，可滿足數(shù)據(jù)中心和硅光子（SiPh）市場(chǎng)中新出現(xiàn)的數(shù)據(jù)速率需求。兩款板卡可在同一UltraFLEXplus平臺(tái)上同時(shí)使用，為客戶提供極大的靈活性，輕松應(yīng)對(duì)當(dāng)前和未來的各類高速接口測(cè)試需求。

每個(gè)UltraPHY 224G板卡提供8個(gè)全雙工差分通道和8個(gè)純接收差分通道，采用DSO + BERT架構(gòu)，并支持高達(dá)112 Gb/s NRZ和224 Gb/s（112 Gbaud PAM4）的數(shù)據(jù)速率。與泰瑞達(dá)的UltraPHY 112G一樣，UltraPHY 224G具有極高的可擴(kuò)展性，每個(gè)UltraFLEXplus平臺(tái)可支持多個(gè)板卡，并能隨著行業(yè)發(fā)展而靈活支持新出現(xiàn)的先進(jìn)調(diào)制格式。

主要優(yōu)勢(shì)包括：

●   單一測(cè)試平臺(tái)滿足所有PHY測(cè)試需求–UltraPHY 224G和UltraPHY 112G均基于泰瑞達(dá)UltraFLEXplus設(shè)計(jì)。

●   平臺(tái)共存–同一UltraFLEXplus可同時(shí)搭載UltraPHY 224G和UltraPHY 112G，實(shí)現(xiàn)PHY測(cè)試的全數(shù)據(jù)速率覆蓋。

●   依托泰瑞達(dá)應(yīng)用廣泛的IG-XL軟件，大幅簡(jiǎn)化測(cè)試程序開發(fā)與調(diào)試診斷工作。

●   基于先進(jìn)的實(shí)驗(yàn)室技術(shù)，UltraPHY提供全面集成的量產(chǎn)測(cè)試解決方案，并由泰瑞達(dá)統(tǒng)一提供服務(wù)和支持。

●   集成DSO、AWG和BERT功能，可實(shí)現(xiàn)全面的PHY量產(chǎn)測(cè)試和特性分析。

●   信號(hào)傳輸帶寬超50GHz，其可靠性已在生產(chǎn)環(huán)境中得到驗(yàn)證。

●   架構(gòu)具有可擴(kuò)展性，能支持當(dāng)前和未來適用于SiPh及非SiPh芯片的電氣接口標(biāo)準(zhǔn)。

隨著高速PHY接口不斷演進(jìn)，部署在同一測(cè)試平臺(tái)（泰瑞達(dá)UltraFLEXplus）上的泰瑞達(dá)UltraPHY成為一種能夠滿足未來需求的解決方案。