尼得科精密檢測科技株式會社（以下簡稱“本公司”）將參展2026年2月11日（周三）～2月13日（周五）于韓國首爾COEX會議中心舉辦的“SEMICON KOREA 2026”。

本次展會將展出助力下一代功率半導(dǎo)體(IGBT/SiC)市場的檢測設(shè)備“NATS系列”以及匯總了集團(tuán)技術(shù)的最新檢測解決方案

本公司子公司尼得科SV Probe將首次在韓國展出晶圓檢測夾具“探針卡”的最新解決方案，包括可實(shí)現(xiàn)半導(dǎo)體器件溫度測量的TC(Thermo Couple：熱電偶)探針，以及采用2D MEMS技術(shù)的探針卡等產(chǎn)品。

此外，我們還將展示本公司核心產(chǎn)品半導(dǎo)體封裝基板電氣檢測系統(tǒng)“GATS系列”的最新機(jī)型。

2D MEMS探針卡

〈參展概要〉

?   展期：2026年2月11日(周三)～2月13日(周五)

?   會場：首爾市　COEX會議中心

?   展位：1樓Hall Grand Ballroom　G004　

〈展品及Panel展示內(nèi)容〉

?   2D-MEMS探針卡

?   垂直型 高電流 PROBE

?   器件溫度測量 PROBE

?   玻璃微孔加工

?   IGBT/SiC模塊用絕緣/靜態(tài)特性/動態(tài)特性檢測設(shè)備　“NATS-1000/1700系列”

?   KGD測試裝置“NATS-1300系列”

?   RWi-300MK(wafer AOI)

?   AC/DC多功能測試儀“R-700系列”

?   AI服務(wù)器大型電路板電氣檢測系統(tǒng)“GATS-8360”

?   超高精度檢測用針式探針