高低溫探針臺(tái)T8-LY100能夠?yàn)榘雽?dǎo)體芯片的電學(xué)參數(shù)測(cè)試提供一個(gè)80K-420K高低溫測(cè)試環(huán)境,通過(guò)外接不同的電學(xué)測(cè)量?jī)x器,可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及IV曲線等參數(shù)檢測(cè),用于低溫環(huán)境下的芯片、晶圓和器件的非破壞性電學(xué)測(cè)試。
2.帶有4英寸高透射觀察窗,材質(zhì)熔融石英
3.樣品載臺(tái)直徑:(50mm)平整度<5微米
6.溫度范圍:80K-420K,控溫精度:0.1-0.5K
8· X-Y-Z行程范圍:±25mm*±25mm*0-12.5mm線性運(yùn)動(dòng),位移精度:1um
9· 預(yù)留光纖接入口做光響應(yīng)測(cè)試
11· 探針長(zhǎng)度38mm,直徑0.5mm,針尖直徑1um
12· 兩套CCD相機(jī)(能看清1-2um)
14·三同軸射頻接口:4只,外接三同軸連接線雙向公頭,長(zhǎng)度 2米
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