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芯測科技提供便捷版內(nèi)存測試方案EZ-BIST

　　中美貿(mào)易戰(zhàn)持續(xù)延燒，引發(fā)后續(xù)波及全球的貿(mào)易戰(zhàn)爭，當(dāng)中更是突顯知識產(chǎn)權(quán)合法的重要性。有鑒于此，深耕于開發(fā)內(nèi)存測試與修復(fù)技術(shù)的芯測科技(iSTART-Tek，簡稱iSTART)為了協(xié)助客戶對知識產(chǎn)權(quán)領(lǐng)域規(guī)避嚴(yán)重失信的風(fēng)險...

芯測 EZ-BIST 2019-01-16

基于FPGA動態(tài)可重構(gòu)技術(shù)的二模冗余MIPS處理器

現(xiàn)場可編程門陣列(Field Programmable Gate Array， FPGA)是基于SRAM的一種硬件電路可重配置電子邏輯器件，可通過將硬件描述語言編譯生成的硬件配置比特流編程到FPGA中，而使其硬件邏輯發(fā)生...

FPGA SRAM 2014-02-14

瑞薩通過Mentor的TestKompress/LogicBIST混合解決方案

Mentor Graphics公司(納斯達(dá)克代碼：MENT)日前宣布瑞薩電子正在使用Tessent? TestKompress?/LogicBIST混合解決方案，以應(yīng)對ISO 26262標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的對安全很重要的測試要求。...

瑞薩 Mentor 2013-09-26

安捷倫推出適用于電子測量的多功能臺式邊界掃描分析儀

安捷倫科技公司(NYSE：A)日前宣布推出 Agilent x1149 邊界掃描分析儀。...

安捷倫分析儀 2013-02-20

基于BIST的IP核測試方案設(shè)計

1 引言　　隨著半導(dǎo)體工藝的發(fā)展，片上系統(tǒng)SOC已成為當(dāng)今一種主流技術(shù)?；贗P復(fù)用的SOC設(shè)計是通過用戶自定義邏輯(UDL)和連線將IP核整合為一個系統(tǒng)，提高了設(shè)計效率，加快了設(shè)計過程，縮短了產(chǎn)品上市時間。但是隨著設(shè)...

BIST IP核 2012-08-19

模擬BIST的四項基本原則

引言　　數(shù)字BIST的工作原理：用一個LFSR(線性反饋移位寄存器)生成偽隨機(jī)的位模式，并通過臨時配置成串行移位 ......

BIST 基本原則 2012-02-12

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BIST

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基于FPGA動態(tài)可重構(gòu)技術(shù)的二模冗余MIPS處理器

瑞薩通過Mentor的TestKompress/LogicBIST混合解決方案

安捷倫推出適用于電子測量的多功能臺式邊界掃描分析儀

基于BIST的IP核測試方案設(shè)計

模擬BIST的四項基本原則

一種改進(jìn)的SRAM并行BIST電路設(shè)計

一種新的低功耗BIST測試生成器設(shè)計

測試工具專欄.

借助組合式電量計提升精度并縮減系統(tǒng)占用空間

實施可靠電源的途徑

ADI家庭總線數(shù)據(jù)線供電解決方案

EEPW 2025 年度產(chǎn)業(yè)技術(shù)回顧與展望直播——機(jī)器人專場