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缺陷技術社區(qū)

缺陷

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缺陷資訊

洞悉3D堆疊半導體中 “看不見的缺陷”

當今最先進的邏輯芯片與存儲芯片，是由晶體管和互連線路構成的極為復雜的網(wǎng)絡，制造精度需達到亞納米級別。在這一尺度下，即便深埋在硅片內部的微觀裂紋等原子級缺陷，也會導致芯片性能下降，甚至完全失效。盡管環(huán)繞柵極（GAA）、納米...

3D堆疊半導體缺陷 2026-03-24

電子顯微鏡觀測到半導體中存在 “mouse bite” 缺陷

康奈爾大學研究團隊首次借助高分辨率 3D 成像技術觀測到芯片中原子級缺陷，此類缺陷會影響芯片性能該成像技術由康奈爾大學與臺灣積體電路制造股份有限公司（臺積電）、先進半導體材料公司（ASM）聯(lián)合研發(fā)，未來或可應用于各類現(xiàn)代...

電子顯微鏡半導體 2026-03-03

鈍化技術減少了鈣鈦礦太陽能電池的缺陷

在過去的幾十年里，太陽能電池越來越普遍，全球越來越多的個人和企業(yè)現(xiàn)在依靠太陽能為他們的家庭或運營供電。因此，世界各地的能源工程師一直在努力尋找有前途用于光伏發(fā)展、環(huán)保無毒、易于采購和加工的材料。這些材料包括基于鈣鈦礦的材...

鈍化技術鈣鈦礦 2025-04-27

英特爾用AI技巧發(fā)現(xiàn)數(shù)據(jù)中心芯片中隱藏的缺陷

對于大型數(shù)據(jù)中心中的高性能芯片，數(shù)學可能是敵人。由于超大規(guī)模數(shù)據(jù)中心正在進行的計算規(guī)模龐大，在數(shù)百萬個節(jié)點和大量硅片上全天候運行，因此會出現(xiàn)極其罕見的錯誤。這只是統(tǒng)計數(shù)據(jù)。這些罕見的、“無聲的”數(shù)據(jù)錯誤不會在傳統(tǒng)的質量控...

英特爾 AI 2025-04-25

考慮缺陷可能性，將車用IC DPPM降至零

半導體公司需要思考如何應對所有設計流程中的新挑戰(zhàn)，方能在快速成長的車用 IC市場中提升競爭力。為了符合ISO 26262國際安全規(guī)范中零百萬缺陷率（DPPM）的目標，可測試性設計（DFT）工程師采用了新的測試模式類型，包...

缺陷車用IC 2022-07-17

基于DM642的橋梁纜索表面缺陷圖像采集及傳輸系統(tǒng)設計

針對目前國內橋梁纜索表面缺陷檢測的不足，提出一種基于DM642的纜索表面缺陷圖像采集及傳輸系統(tǒng)。介紹了該系統(tǒng)的硬件平臺以及軟件設計。系統(tǒng)的硬件平臺...

642 DM 2018-09-11

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鋁電解電容器常見缺陷的規(guī)避方法

格蘭仕ＷＤ９００Ｂ微波爐的電路缺陷電路圖

缺陷資料

C陷阱與缺陷

C陷阱缺陷 2014-12-27 立即下載

C陷阱與缺陷（完整版）

C 陷阱 2014-10-20 立即下載

手機外殼凃裝的缺陷分析

涂裝缺陷 2013-09-22 立即下載

PCB技術

過程缺陷 2013-09-22 立即下載

PCB技術

過程缺陷 2013-09-22 立即下載

PCB技術

過程缺陷 2013-09-22 立即下載

BGA 缺陷缺陷分析

缺陷分析 2013-09-17 立即下載

TD-SCDMA標準技術缺陷研究

TD-SCDMA 標準 2013-09-16 立即下載

缺陷提交軟件--Bugzilla簡明使用手則-免費

缺陷提交 2013-09-16 立即下載

利用CQ實施缺陷預防

利用實施 2013-09-16 立即下載

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09-26 造成PCB焊接缺陷的原因

睡夢中的雄師|瀏覽：970|回復：1| xqh518 2024-10-02 17:03:26

09-25 造成PCB焊接缺陷的原因

睡夢中的雄師|瀏覽：932|回復：1| huan2220 2023-09-25 10:54:07

07-03 造成PCB焊接缺陷的原因

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06-06 請問為什么SiCwafer的邊緣缺陷密度更大？

strandtju|瀏覽：942|回復：0| strandtju 2022-06-06 10:56:15

12-08 Aigtek功率放大器在lamb波時間反轉法的脫粘缺陷成像研究中的應用

安泰電子|瀏覽：1098|回復：3| 13317725999 2021-12-09 08:40:47

10-26 Aigtek功率放大器在鋼板表面缺陷及交流漏磁測試中的應用

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09-26 Aigtek功率放大器在超磁致伸縮換能器孔裂紋缺陷檢測中的應用

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