自動測試設(shè)備技術(shù)社區(qū)

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自動測試設(shè)備資訊

自動測試設(shè)備的校準(zhǔn)痛點，埋入式齊納技術(shù)怎么解決？

精密測試設(shè)備依靠精確的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器，確保所有測量結(jié)果都能準(zhǔn)確地反映受測器件的狀態(tài)。在測試和測量中，任何偏移誤差、增益誤差或有效位數(shù)減少都將對測量結(jié)果產(chǎn)生負(fù)面影響。然而，遺憾的是，在高精度系統(tǒng)中，所有這些誤差都無法完全避免。...

TI 自動測試設(shè)備 2026-04-03

自動測試設(shè)備應(yīng)用中PhotoMOS開關(guān)的替代方案

問題人工智能(AI)應(yīng)用對高性能內(nèi)存，特別是高帶寬內(nèi)存(HBM)的需求不斷增長，這是否會導(dǎo)致自動測試設(shè)備(ATE)廠商的設(shè)計變得更加復(fù)雜？回答AI需要高密度和高帶寬來高效處理數(shù)據(jù)，因此HBM至關(guān)重要。ATE廠商及其開發(fā)的...

自動測試設(shè)備 PhotoMOS 2025-05-29

自動測試設(shè)備應(yīng)用中PhotoMOS開關(guān)的替代方案

本文提出，CMOS開關(guān)可以取代自動測試設(shè)備(ATE)廠商使用的PhotoMOS?開關(guān)。CMOS開關(guān)的電容乘電阻(CxR)性能可以與PhotoMOS相媲美，且其導(dǎo)通速度、可靠性和可擴(kuò)展性的表現(xiàn)也很出色，契合了先進(jìn)內(nèi)存測試時...

自動測試設(shè)備 PhotoMOS 2025-02-19

自動測試設(shè)備系統(tǒng)中的組件電源設(shè)計

組件電源（DPS）IC能夠彈性加載電壓、加載電流，為自動測試設(shè)備（ATE）提供動態(tài)測試能力。當(dāng)負(fù)載電流在兩個可編程電流限值之間時，DPS IC為電壓源，并且在達(dá)到設(shè)定的電流限值時平穩(wěn)轉(zhuǎn)換為精密電流源/灌電流。圖一為ADI...

自動測試設(shè)備組件電源 2024-08-13

Test Advantage 收購Microstats

?? Boston Semi Equipment Group（BSE 集團(tuán)）旗下公司 Test Advantage 宣布已經(jīng)收購了位于菲律賓的一家面向自動測試設(shè)備 (ATE) 市場的硬件維修中心 Microsta...

Test Advantage Microstats 2011-06-07

惠瑞捷獲“最佳測試設(shè)備供應(yīng)商"大獎

　　首屈一指的半導(dǎo)體測試公司惠瑞捷股份有限公司(納斯達(dá)克代號：VRGY)，本次于半導(dǎo)體業(yè)界之主要研究暨分析公司VLSIresearch所舉辦的2011年客戶滿意度調(diào)查中榮膺“最佳測試設(shè)備供應(yīng)商“與“10大最佳晶片制造設(shè)備...

惠瑞捷自動測試設(shè)備 2011-05-23